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「」 半導体 > 測定機 の検索結果

26件中 1-10件を表示

  • 表面検査装置:

    商品コード
    1505287588-714729 
    メーカー名
    オリンパス 
    型式
    AL100 
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  • 段差計:

    商品コード
    1505287782-526405 
    メーカー名
    KLA Tencor 
    型式
    Alpha step-200 
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  • 基板外観検査機:

    商品コード
    1533546031-605512 
    メーカー名
    SONY 
    型式
    SI-V200 
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  • 段差計:

    商品コード
    1556166550-792101 
    メーカー名
    KLA-Tencor 
    型式
    P-20H 
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  • マクロ検査装置:

    商品コード
    1556167190-044833 
    メーカー名
    KLA-Tencor 
    型式
    Viper 2410 
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  • 膜厚計:

    商品コード
    1567673911-805341 
    メーカー名
    大日本スクリーン 
    型式
    Ramda Ace 
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  • C-V測定器:

    商品コード
    1567674052-657626 
    メーカー名
    大日本スクリーン 
    型式
    CV-8000-L 
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  • 蛍光X線分析装置:

    商品コード
    1567674290-998779 
    メーカー名
    リガク 
    型式
    3700 
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  • パーティクル検査装置:

    商品コード
    1571203675-619298 
    メーカー名
    トプコン 
    型式
    WM-7S 
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  • SEM式欠陥検査機:

    商品コード
    1586936466-984488 
    メーカー名
    HMI 
    型式
    eScan310 
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