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液晶・FPD関連設備 > 検査工程 > 光学式の検索結果

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案件管理番号 製品名 型式 メーカー 年式 画像 詳細 問い合わせ
170308-6-L01406 セルギャップ測定装置 RETS-9200 大塚電子

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170813-001 ガラス表面検査装置 GI4820 日立ハイテック 2001

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170308-4-E003 セルギャップ測定装置 AN0-0958 大塚電子

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HT-180307-D-03-00 走査型レーザー顕微鏡 OLS3000 オリンパス 2004

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HT-180307-D-02-00 光学顕微鏡 MX-50 オリンパス

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101015-A47166 顕微分光測定装置 LCF-3500_A866 大塚電子 2005

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171001-A-056-00 800×600大型顕微鏡 LS8060 KSオリンパス株式会社 2006

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150623-1-0179-01 走査電子顕微鏡(FE-SEM) JSM-7500FA 日本電子

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171001-B-014-00 光学顕微鏡 MX61L-F オリンパス

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180329-H1077 画像測定器 KK365-000D ミツトヨ

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